本部分为ＧＢ／Ｔ１５９７２的第４５部分。本部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．４—１９９８《光纤总规范　第４部分：传输特性和光学特性试验方法》第１１章。本标准规定了光纤模场直径的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。本标准适用于对B类单模光纤模场直径的测量和成品光纤光缆的商业性检验。本部分与ＧＢ／Ｔ１５９７２．４—１９９８第１１章相比主要变化如下：
———正文中对试验方法的详细描述分别用附录的形式给出（１９９８年版的１１．２、１１．３、１１．４，本版的附录Ａ、附录Ｂ、附录Ｃ）；
———增加了替代试验方法Ｄ（本版的附录Ｄ）；
———修改了光纤远场分布和近场分布的计算细节（１９９８年版的１１．１．２，本版的附录Ａ、附录Ｃ）；
———纠正了某些不恰当的叙述。

没有内容

前言Ⅰ 1 范围1 2 规范性引用文件1 3 试验方法概述1 4 试验装置2 5 试样和试样制备3 6 试验程序3 7 计算3 8 结果4 附录A(规范性附录) 方法A---用直接远场法测量模场直径的特定要求6 附录B(规范性附录) 方法B---用远场可变孔径法测量模场直径的特定要求8 附录C(规范性附录) 方法C---用近场扫描法测量模场直径的特定要求10 附录D(规范性附录) 方法D---用光时域反射计测量模场直径的特定要求13 附录E(资料性附录) 采样数据和计算结果17

下列文件中的条款通过GB/T15972的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T15972.40-2008 光纤试验方法规范 第40部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---衰减(IEC60793-1-40:2001,Opticalfibres-Part140:Measurementmethodsandtestprocedures-Attenuation,MOD)